彩色共焦位移传感器

    彩色共焦位移传感器是一种精度可达次微米级的非接触式位移量测系统，对于表

面漫反射或镜反射之物体乃至透明材质皆可测量其位移或厚度，基于出光与回传讯号

路径同轴之特征，彩色共焦位移传感器亦适合于深孔 /盲孔工件等量测应用。

  优点

非接触式光学共焦测量技术，具有超高分辨率及同光轴回传讯号不会被遮挡之特性；

光纤传输彩色编码测头设计，其结构轻巧且内部不含电子零件而不受环境干扰影响；

采用白光（可见光）光源系统，相较激光光源而言安全防护要求低；

独特多层材质测演算法，可量测透明/半透明多层材质间之厚度或间隙。

  测量原理

彩色共焦位移传感器乃利用特制的彩色编码镜头使可见光产生轴向色散输出，并经由

光谱解析器解析共焦回传光波讯号，最后透过波长与位移转换曲线计算出工件位移量

测值。

  应用案例

具体可以应用在哪些行业

1、手机，平板

2、PCB板，连接器，IC芯片等电子业；

3、面板，玻璃，钢化膜等行业；

4、半导体晶圆，绿能，光伏等行业。

  优于传统测量 精准量测各类材质

彩色共焦位移传感器不但精度高于传统三角测距传感器，量测不同材质或不同形貌时亦

能获得稳定一致结果。

  特征

1、 稳定量测各类材质,例如金属/陶瓷/镜面/玻璃等；

2、 适用于各种工件形貌（包含深孔/斜面/弧面）之特征尺寸量测，例如高度/段差/厚

    度/平面度/轮廓度等；

3、 高温高压等严苛操作条件下亦能正常使用；

4、 测头结构轻巧，易整合于各行业之自动化测量应用。

  性能参数

     型号            PI-02-18       PI-04-33     PI-06-55

   量测范围             2mm           4mm          6mm

   工作距离           18±1mm       33±3mm       55±3mm

   分辨率*1           0.05μm         0.2μm      0.1μm

   线性度*2         ±0.25μm       ±0.2μm     ±0.5μm

  光点直径*3           25μm         40μm         45μm

  最大倾角*4          ±22deg        ±7deg       ±11deg

 测头尺寸（xL）    Φ34x78.4mm     Φ15x55mm     Φ33x75mm

   测头重量             105g          24g           122g

   防护等级             IP40          IP40          IP40

    控制器                           PI-CTR

     光源                           WhiteLED

  控制器尺寸               （LxWxH）   96x136x136mm

  控制器重量                         1.65kg   

   额定电压                           24VDC

  外部通讯接口      RS-232:115200bps（max.） Ethernet:100BASE-TX/10BASE-T  USB

   防护等级                            Ip20

   采样轴期                        0.5~10（10MS）

    IO功能                     触发输入，模拟量输入

  光纤延长线                           CCS-OF

     长度                             2/5/10m

     重量                            23/40/69g

最小折弯半径*5                         50mm

   操作温度                            5~40℃

   环境温度                            35~80%

   环境照度                          ＜10.000lx

    夹置具                             可客制化